Skip navigation

Browsing by Author Боровиков, С. М.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 191 to 199 of 199 < previous 
Issue DateTitleAuthor(s)
2022Эвристическая модель прогнозирования работоспособности полупроводниковых приборовКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2017Экспериментальное исследование деградации изделий электронной техникиБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Плебанович, В. И.; Бересневич, А. И.; Бурак, И. А.
2015Экспериментальное исследование деградации функциональных параметров изделий электронной техникиШнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Гилимович, Д. С.; Боровиков, С. М.
2022Электрические и электронные компоненты устройств и систем. Лабораторный практикум : пособиеХорошко, В. В.; Боровиков, С. М.; Фещенко, А. А.; Соловьёв, Я. А.
2014Электромеханические и электромагнитные устройства систем безопасности : учебно-метод. пособиеСурин, В. М.; Боровиков, С. М.; Вышинский, Н. В.
2018Эффективность моделей деградации функциональных параметров при прогнозировании параметрической надежности полупроводниковых приборов.Боровиков, С. М.; Цырельчук, Н. И.; Дик, С. С.; Шнейдеров, Е. Н.
2005Эффективность прогнозирования надёжности элементов методом пороговой логикиБоровиков, С. М.; Никифоренко, Л. Г.
2005Эффективность прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов методом имитационных воздействийБоровиков, С. М.; Мандик, Н. Е.
2011Эффективность профориентационной работы по специальности «Электронные системы безопасности»Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Цырельчук, И. Н.; Матюшков, В. Е.