Skip navigation

Просмотр собрания по группе - Авторы Белоус, А. И.

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я или введите несколько первых букв:  
Результаты 1 по 9 из 9
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
2011ZnO films and crystals on bulk silicon and SOI wafers: Formation, Properties and ApplicationsChubenko, E. B.; Klyshko, A.; Bondarenko, V.; Balucani, M.; Belous, A.; Malyshev, V.; Чубенко, Е. Б.; Клышко, А. А.; Бондаренко, В. П.; Белоус, А. И.; Малышев, В. С.
2008БИС преобразователя емкость–напряжение для микроэлектромеханических датчиковБелоус, А. И.; Дрозд, С. Е.; Коннов, Е. В.; Мухуров, Н. И.; Плебанович, В. А.; Belous, A. E.; Drozd, S. E.; Konnov, Е. V.; Mukhurov, N. I.; Plebanovich, V. А.
2007Влияние гамма-излучения на параметры различных транзисторных МОП-структур — элементов интегральных микросхемКоршунов, Ф. П.; Богатырев, Ю. В.; Белоус, А. И.; Шведов, С. В.; Ластовский, С. Б.; Кульгачев, В. И.; Korshunov, F. P.; Bogatyrev, Yu. V.; Belous, A. I.; Shvedov, S. V.; Lastovsky, S. B.; Kulgachev, V. I.
2016Измерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопииСолодуха, В. А.; Белоус, А. И.
2006Образование остаточных нарушений в кремнии, имплантированном ионами углерода и бораПлебанович, В. И.; Белоус, А. И.; Челядинский, А. Р.; Оджаев, В. Б.; Plebanovich, V. I.; Belous, А. I.; Chelyadinskii, A. R.; Odzhaev, V. B.
2012Определение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектамБелоус, А. И.; Прибыльский, А. В.
2007Получение и физические свойства Cu(In,Ga)(S,Se)2 пленок для фотопреобразователей многокристальных модулейТиванов, М. С.; Зарецкая, Е. П.; Иванов, В. А.; Гременок, В. Ф.; Залесский, В. Б.; Романов, П. И.; Дроздов, Н. А.; Федотов, А. К.; Белоус, А. И.; Шведов, С. В.; Tivanov, M. S.; Zaretskaya, E. P.; Ivanov, V. A.; Gremenok, V. F.; Zalesski, V. B.; Romanov, P. I.; Drozdov, N. A.; Fedotov, A. K.; Belous, A. I.; Shvedov, S. V.
2011Радиационные эффекты в элементах субмикронных КМОП интегральных схемКоршунов, Ф. П.; Богатырев, Ю. В.; Белоус, А. И.; Шведов, С. В.; Малышев, В. С.; Ластовский, С. Б.; Карась, В. И.; Гуринович, В. А.
2013Эффективный способ выявления ненадежных КМОП схемБелоус, А. И.; Прибыльский, А. В.