| Дата выпуска | Название | Автор(ы) |
| 2015 | Влияние материала подложек на зависимость электрического сопротивления тонких пленок алюминия от температуры | Биран, С. А.; Короткевич, А. В.; Короткевич, Д. А.; Сологуб, Л. В. |
| 2015 | Влияние технологии получения изоляционных покрытий подложек на их свойства при низких температурах | Биран, С. А.; Короткевич, А. В.; Короткевич, Д. А.; Плешкин, В. А. |
| 2014 | Внедрение элементов научно-исследовательской работы в процесс высшего технического образования | Биран, С. А.; Короткевич, А. В.; Короткевич, Д. А. |
| 2010 | Дипломное проектирование : методическое пособие для студентов специальностей 1-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» и 1-41 01 03 «Квант. информ. системы» всех форм обучения | Короткевич, А. В.; Колосницын, Б. С.; Черных, А. Г. |
| июн-2016 | Единая информационная система для задач обработки результатов статистического наблюдения и информационно-аналитического обеспечения в сфере образования | Листопад, Н. И.; Жуковская, А. В.; Короткевич, А. В. |
| 2005 | Испытание и исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем: метод. указания и контрольные задания для студентов специальности 41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» заоч. и дистанц. форм обучения | Колосницын, Б. С.; Короткевич, А. В. |
| 2014 | Исследование чувствительности к механическим нагрузкам мембранных элементов МЭМС из анодированного алюминия | Биран, С. А.; Короткевич, Д. А.; Короткевич, А. В. |
| 2014 | Исследование влияния режимов реанодирования на объемный рост оксида тантала в поры анодного оксида алюминия | Короткевич, Д. А.; Биран, С. А.; Комар, О. М.; Короткевич, А. В. |
| 2013 | Исследование внутренних механических напряжений в структурах на основе анодированного алюминия | Биран, С. А.; Короткевич, Д. А.; Короткевич, А. В. |
| 2016 | Исследование механических свойств элементов МЭМС на основе анодного оксида алюминия | Биран, С. А.; Короткевич, Д. А.; Короткевич, А. В.; Biran, S. A.; Korotkevich, D. A.; Korotkevich, A. V. |
| 2014 | Исследование чувствительности консольных элементов на основе анодного оксида алюминия | Биран, С. А.; Короткевич, Д. А.; Короткевич, А. В. |
| 2014 | Криптографическая защита информации на базе эллиптических кривых | Короткевич, А. В. |
| мая-2013 | Криптографическая передача информации на базе эллиптических кривых | Короткевич, А. В. |
| 2015 | Мембранные сенсорные элементы на основе анодного оксида алюминия : отчет о НИР (заключ.) | Короткевич, А. В.; Чушкова, Д. И. |
| 2016 | Метод криптографической передачи информации на базе эллиптических кривых | Короткевич, А. В. |
| 2015 | Методы и средство криптографической передачи информации на базе эллиптических кривых | Короткевич, А. В. |
| 25-окт-2017 | Методы умножения точки эллиптической кривой на число | Короткевич, А. В. |
| 2017 | Микро- и наноэлектромеханические устройства | Короткевич, А. В. |
| 2017 | Многокритериальная маршрутизация информационных потоков | Листопад, Н. И.; Короткевич, А. В.; Михневич, С. Ю.; Хайдер, А. А. |
| 2003 | Мощные и СВЧ полупроводниковые приборы: метод. указания и контрольные задания по дисциплине «Физика активных элементов инте- гральных схем. Мощные и СВЧ полупроводниковые приборы» для студ. спец. 41 01 02 «Микро- и наноэлектронные технологии и системы» заочной и дистанционной форм обучения | Колосницын, Б. С.; Короткевич, А. В. |
