Skip navigation

Browsing by Author Соловьев, Я. А.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я or enter first few letters:  
Showing results 1 to 20 of 23  next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2017Влияние быстрой термообработки на оптические параметры кремнияСолодуха, В. А.; Пилипенко, В. А.; Омельченко, А. А.; Жигулин, Д. В.; Петлицкая, Т. В.; Соловьев, Я. А.
2015Высокотемпературные диоды ШотткиЛовшенко, И. Ю.; Соловьев, Я. А.; Солодуха, В. А.
2014Интегрированные пленочные системы в твердотельных структурах диоидов ШотткиСолодуха, В. А.; Баранов, В. В.; Комаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Сарычев, О. Э.; Соловьев, Я. А.; Турцевич, А. С.; Фоменко, Н. К.
2010Использование атомного силового микроскопа для исследования p-n-переходовЦиркунова, Н. Г.; Соловьев, Я. А.; Борисенко, В. Е.; Tsirkunova, N. G.; Soloviev, J. A.; Borisenko, V. E.
2017Конструирование и технология изделий интегральной электроникиГолосов, Д. А.; Соловьев, Я. А.
2005Конструктивно-технологические методы формирования тонкопленочных элементов кремниевых диодов шоттки с повышенной воспроизводимостью свойств в серийном производствеСоловьев, Я. А.
2007Лабораторный практикум по дисциплинам «Технология изделий интегральной электроники», «Специальное технологическое оборудование» для студентов специальностей «Проектирование и производство РЭС», «Электронно-оптические системы и технологии»Керенцев, А. Ф.; Соловьев, Я. А.; Ланин, В. Л.; Телеш, Е. В.
2007Лабораторный практикум по дисциплинам «Технология изделий интегральной электроники», «Специальное технологическое оборудование» для студентов специальностей «Проектирование и производство РЭС», «Электронно-оптические системы и технологии». Ч. 3.Емельянов, В. А.; Ануфриев, Л. П.; Достанко, А. П.; Бордусов, С. В.; Гурский, Л. И.; Ланин, В. Л.; Турцевич, А. С.; Соловьев, Я. А.; Портнов, Л. Я.; Коробко, А. О.; Король, И. П.; Борисик, А. В.; Осипов, А. А.
2004Модель обратной вольтамперной характеристики и определение параметров контакта Шоттки с охранным кольцомСоловьев, Я. А.; Solovjov, J. A.
2006Особенности формирования границы раздела Si/PtSi в диодах Шоттки для силовой электроникиТурцевич, А. С.; Соловьев, Я. А.; Ануфриев, Д. Л.; Мильчанин, О. В.; Turtsevich, A. S.; Solovjov, J. A.; Anufriev, D. L.; Milchanin, O. V.
2017Повышение надежности мощных транзисторов при циклическом воздействии температурыВолкенштейн, С. С.; Солодуха, В. А.; Соловьев, Я. А.; Керенцев, А. Ф.; Хмыль, А. А.
2015Повышение устойчивости структур диодов Шоттки с охранным кольцом к разрядам статического электричестваСолодуха, В. А.; Ланин, В. Л.; Соловьев, Я. А.
2015Прогнозирование максимально допустимых потенциалов разрядов статического электричества и их влияние на диоды ШотткиСолодуха, В. А.; Ланин, В. Л.; Соловьев, Я. А.
2017Программно-управляемое технологическое оборудованиеТелеш, Е. В.; Соловьев, Я. А.
2017Проектирование и производство изделий электронной техники : пособиеДостанко, А. П.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Соловьев, Я. А.; Ковальчук, Н. С.; Мельников, С. Н.; Стасишина, А. М.; Ермоленко, М. В.
2017Проектирование и производство изделий интегральной электроникиГолосов, Д. А.; Соловьев, Я. А.; Ковальчук, Н. С.
2019Технологические модули и устройства программно-управляемого оборудования для производства изделий электроники. Лабораторный практикум : пособиеТелеш, Е. В.; Соловьев, Я. А.
2016Технологическое оснащение производства изделий электроникиТелеш, Е. В.; Соловьев, Я. А.
2011Улучшение паяемости внешних выводов интегральных микросхем в корпусе DIPТурцевич, А. С.; Ланин, В. Л.; Соловьев, Я. А.; Керенцев, А. Ф.
2010Факторы, влияющие на герметичность мощных транзисторов в металлокерамических и металлостеклянных корпусахЛанин, В. Л.; Керенцев, А. Ф.; Соловьев, Я. А.