Skip navigation

Browsing by Subject дефекты

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 8 of 8
Issue DateTitleAuthor(s)
2010Дефекты паяных соединений при монтаже внешних выводов транзисторов в силовых модуляхЛанин, В. Л.; Керенцев, А. Ф.
2012Информационно-параметрические методы совершенствования технологии производства субмикронных интегральных микросхем с применением тестовых структурЕмельянов, А. В.
2012Информационно-параметрические методы совершенствования технологии производства субмикронных интегральных микросхем с применением тестовых структурЕмельянов, А. В.
2014Кодирование информации в инфокоммуникацияхКонопелько, В. К.; Бобов, М. Н.; Цветков, В. Ю.
2015Нейросетевая идентификация дефектов полупроводниковых пластинШепелевич, Марина Александровна
2017Программное средство поиска дефектов веб-приложенийНиколаевич, Е. Н.
2011Улучшение паяемости внешних выводов интегральных микросхем в корпусе DIPТурцевич, А. С.; Ланин, В. Л.; Соловьев, Я. А.; Керенцев, А. Ф.
2011Формирование системы точечных и электронных дефектов в высокотемпературном сверхпроводнике YBA2CU3O7–ДГурский, Л. И.; Каланда, Н. А.