Skip navigation

Browsing by Subject delocalization

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 2 of 2
Issue DateTitleAuthor(s)
2020Low temperature injected-caused charge carrier instability in n-type silicon below insulator-to-metal transitionDanilyuk, A. L.; Prischepa, S. L.; Trafimenko, A. G.; Fedotov, A. K.; Svito, I. A.; Kargin, N. I.
2020Делокализация электронных состояний в n-Si при низких температурахДанилюк, А. Л.; Трафименко, А. Г.; Федотов, А. К.; Прищепа, С. Л.