| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2022 | Actual methods of computer testing in education | Leshchevich, E. I. |
| 2020 | Development reliability node fault-tolerant computing systems by parallel technics | Kamil, K. I. A.; Abrosimov, M. B. |
| 2021 | Software tool for evaluation of reliability and survivability of complex technical system based on logical-probabilistic methodology | Skobtsov, V. Yu.; Lapitskaya, N. V. |
| 2020 | Влияние быстрой термической обработки подзатворного диэлектрика на параметры микросхем временных устройств | Солодуха, В. А.; Пилипенко, В. А.; Горушко, В. А. |
| 2021 | Индивидуальное прогнозирование надежности транзисторов большой мощности для электронных устройств медицинского назначения | Боровиков, С. М.; Казючиц, В. О. |
| 2022 | Концептуальная модель управления надежностью и развитием профессиональных компетенций водителей | Булынко, О. В. |
| 2018 | Метод оценки ожидаемой надежности прикладных компьютерных программ систем медицинской электроники | Боровиков, С. М.; Дик, С. С. |
| 2016 | Метод адаптивного вероятностно-алгебраического моделирования управляемых технологических процессов производства с элементами потенциальной опасности | Смородин, В. С.; Сукач, Е. И.; Жердецкий, Ю. В. |
| 2017 | Метод управления надежностью программных средств | Неборский, С. Н. |
| 2016 | Модель оценки качества web-приложений, основанная на обнаружении уязвимостей к SQL-инъекциям | Оношко, Д. Е.; Бахтизин, В. В. |
| 2018 | Надёжность прикладных программных средств для электронного обучения | Боровиков, С. М.; Дик, С. С.; Дик, С. К.; Ван Там Лэ |
| 2001 | Прогнозирование надёжности биполярных транзисторов с использованием принципов пороговой логики методом троичного преобразования информативных параметров | Стасюк, Д. М. |
| 2017 | Экспериментальное исследование деградации изделий электронной техники | Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Плебанович, В. И.; Бересневич, А. И.; Бурак, И. А. |
