Skip navigation

Browsing by Subject failure of integrated circuits

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 1 of 1
Issue DateTitleAuthor(s)
2018Модели прогнозирования надежности интегральных схем с учетом воздействия электростатического разрядаАлексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Лисовский, А. А.; Константинов, А. А.