Skip navigation

Browsing by Subject x-ray diffractometry

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 2 to 2 of 2 < previous 
Issue DateTitleAuthor(s)
2002X-ray diffractometry of Si epilayers grown on porous siliconLamedica, G.; Balucani, M.; Ferrari, A.; Bondarenko, V. P.; Yakovtseva, V. A.; Dolgyi, L.