Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10180
Название: Evidence of fractional matching states in nanoperforated Nb thin film grown on porous silicon
Авторы: Prischepa, S. L.
Trezza, M.
Cirillo, C.
Attanasio, C.
Ключевые слова: публикации ученых
Дата публикации: 2009
Издательство: EPL
Описание: Evidence of fractional matching states in nanoperforated Nb thin film grown on porous silicon / M. Trezza and others // EPL. – 2009. – № 88. – Р. 57006-p1 – 57006-p6.
Аннотация: ResistivetransitionshavebeenmeasuredonaperforatedNbthinfilmwithalattice of holes with period of the order of ten nanometers. Bumps in the dR/dH-vs.-H curves have been observed at the first matching field and its fractional values, 1/4, 1/9 and 1/16. This effect has been related to different vortex lattice configurations made available by the underlying lattice of holes.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/10180
Располагается в коллекциях:Публикации в зарубежных изданиях

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
121002.pdf994.3 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание Просмотр статистики Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.