Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13157
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorПискун, Г. А.-
dc.contributor.authorАлексеев, В. Ф.-
dc.contributor.authorБрылева, О. А.-
dc.contributor.authorPiskun, G. A.-
dc.contributor.authorAlexeev, V. F.-
dc.contributor.authorBryleva, V. A.-
dc.date.accessioned2017-06-07T12:09:21Z-
dc.date.accessioned2017-07-27T11:59:59Z-
dc.date.available2017-06-07T12:09:21Z-
dc.date.available2017-07-27T11:59:59Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.citationПискун Г. А. Методы технической диагностики микроконтроллеров при воздействии электростатических разрядов / Г. А. Пискун, В. Ф. Алексеев, О. А. Брылева // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2013. - №2 (39). - С. 130-137.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13157-
dc.description.abstractПроведен анализ методов контроля работоспособности микроконтроллеров в условиях воздействия разрядов статического электричества. Рассмотрены три базовых метода параметрического тестирования, базирующихся на особенностях формы и длительности действия электростатических разрядов. Приведены обязательные параметры электронных компонентов, входящих в состав установок по имитации разрядов. Представлен наиболее часто используемый способ функционального тестирования микроконтроллеров, основанный на считывании и анализе инсталлированного массива данных из памяти микросхемы. The analysis methods of control performance microcontrollers in conditions of static electricity. We have considered three basic methods of parametric test, based on the characteristics of the shape and duration of electrostatic charges. Mandatory parameters are electronic components that make up the plants to simulate discharges. Contains the most commonly used method of functional testing of microcontrollers based on the reading and analysis of installed array of data from memory chips.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБелорусско-Российский университетru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectмикроконтроллерru_RU
dc.subjectэлектростатический разрядru_RU
dc.subjectдиагностикаru_RU
dc.subjectпараметрическое тестированиеru_RU
dc.subjectmicrocontrollerru_RU
dc.subjectstatic dischargeru_RU
dc.subjectdiagnosisru_RU
dc.subjectparametric testingru_RU
dc.titleМетоды технической диагностики микроконтроллеров при воздействии электростатических разрядовru_RU
dc.title.alternativeMethods of technical diagnostics microcontrollers with electrostatic dischargeru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Piskun_Methods.pdf762,03 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.