Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item:
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorПискун, Г. А.-
dc.contributor.authorАлексеев, В. Ф.-
dc.contributor.authorБрылева, О. А.-
dc.contributor.authorPiskun, G. A.-
dc.contributor.authorAlexeev, V. F.-
dc.contributor.authorBryleva, V. A.-
dc.identifier.citationПискун, Г. А. Основные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядов / Г. А. Пискун, В. Ф. Алексеев, О. А. Брылева // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2013. - №2 (39). - С. 130-137ru_RU
dc.description.abstractПредставлена классификация основных механизмов повреждения современных типов микроконтроллеров вследствие воздействия разрядов статического электричества. Впервые проведена систематизация электростатических разрядов по типу воздействия и механизму влияния на оборудование. Приведена градация разрядов по степени повреждения и области выявления разрушения. In this paper presented the classification of the main types of damage mechanisms of modern microcontrollers from static electricity. First time it’s developed system-assisted electrostatic discharges by type of impact and the mechanism of influence to electronic devices. See grading categories according to the degree of damage and the identification places of the destruction.ru_RU
dc.publisherБелорусско-Российский университетru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectэлектростатический разрядru_RU
dc.subjectstatic dischargeru_RU
dc.titleОсновные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядовru_RU
dc.title.alternativeMajor damage mechanisms microcontrollers due to the Influence of electrostatic dischargesru_RU
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Bryleva_Major.pdf596,53 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.