https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13465| Title: | Причины повреждения металлизации интегральных схем в условиях воздействия токов повышенной плотности |
| Authors: | Врабий, Э. М. Дегалевич, Д. А. Пискун, Г. А. Алексеев, В. Ф. |
| Keywords: | публикации ученых;повреждение;отказ;металлизация;электродиффузия;надежность |
| Issue Date: | 2015 |
| Publisher: | Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г. Ф. Морозова (ВГЛТУ) |
| Citation: | Причины повреждения металлизации интегральных схем в условиях воздействия токов повышенной плотности / Э. М. Врабий [и др.] // Актуальные направления научных исследований XXI века: теория и практика. - 2015. - № 7 (18-1). - С. 228 - 232. |
| Abstract: | Изучаются причины повреждения металлизации интегральных схем (ИС) в условиях воздействия токов повышенной плотности, которые характерны для разрядов статического электричества. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13465 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Vrabiy_Prichiny.pdf | 855.67 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.