Please use this identifier to cite or link to this item:
https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1591
| Title: | Калибровка системы, предназначенной для контроля проводников на подложке микросхемы |
| Other Titles: | Calibration of the system used for conductor inspection at microchip substrate |
| Authors: | Губчик, И. Н. |
| Keywords: | доклады БГУИР;калибровка камеры;точность калибровки;трехмерная сцена |
| Issue Date: | 2013 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Губчик, И. Н. Калибровка системы, предназначенной для контроля проводников на подложке микросхемы / И. Н. Губчик // Доклады БГУИР. - 2013. - № 6 (76). - С. 92 - 97. |
| Abstract: | Описывается методика калибровки фотометрической системы для решения конкретной
задачи оценки положения проводника, соединяющего полупроводниковую микросхему с
подложкой. Строится нелинейная модель дисторсии объектива камеры, позволяющая
оценить положение проводника в трехмерном пространстве с заданной точностью. Новизна
описанной методики заключается в обеспечении поставленной точности измерений
параметров проводника с высокой скоростью обработки. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1591 |
| Appears in Collections: | №6 (76)
|
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
