https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1980| Title: | Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам |
| Other Titles: | Test of microcontrollers for sensitivity to the electrostatic category |
| Authors: | Алексеев, В. Ф. Силков, Н. И. Пискун, Г. А. Пикулик, А. Н. |
| Keywords: | доклады БГУИР;микроконтроллер;электростатический разряд;метод контактного разряда;метод испытания |
| Issue Date: | 2011 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам / В. Ф. Алексеев [и др. ]// Доклады БГУИР. - 2011. - № 5 (59). - С. 5 - 11. |
| Abstract: | Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа AT89C51RC. Установлено, что накопленный заряд статического электричества, равный 6,5 кВ, приведет к катастрофическому отказу 100% микроконтроллеров. Предложена методика проведения испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1980 |
| Appears in Collections: | №5 (59) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Alekseyev_Metodika.PDF | 963.95 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.