| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Боднарь, И. В. | - |
| dc.contributor.author | Позняк, А. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-12-05T12:30:31Z | |
| dc.date.accessioned | 2017-07-13T11:06:08Z | - |
| dc.date.available | 2014-12-05T12:30:31Z | |
| dc.date.available | 2017-07-13T11:06:08Z | - |
| dc.date.issued | 2011 | - |
| dc.identifier.citation | Бондарь, И. В. Физико-химические основы микроэлектроники и технологии : лаб. практикум для студентов специальности 1 39 02 01 «Моделирование и компьютер. проектирование РЭС» и 1 39 02 02 «Проектирование и пр-во РЭС» всех форм обучения / И. В. Боднарь, А. А. Позняк. – Минск : БГУИР, 2011. – 46 с. : ил. | ru_RU |
| dc.identifier.isbn | 978-985-488-544-5 | - |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2009 | - |
| dc.description.abstract | Приводится основной теоретический материал для изучения тем,
входящих в программу курса «Физико-химические основы микроэлектроники и технологии» специальностей «Моделирование и компьютерное проектирование РЭС» и «Проектирование и производство РЭС»,
подготовки и выполнения лабораторных работ по изучению тепловых
свойств твердого тела «Определение температурного коэффициента
линейного расширения», оптических явлений в полупроводниках «Изучение оптического поглощения полупроводников» и по основам рентгеноструктурного анализа «Изучение структуры кристаллов». | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | лабораторные практикумы | ru_RU |
| dc.subject | микроэлектроника | ru_RU |
| dc.subject | технология | ru_RU |
| dc.subject | физико-химические основы | ru_RU |
| dc.title | Физико-химические основы микроэлектроники и технологии : лаб. практикум для студентов специальности 1 39 02 01 «Моделирование и компьютер. проектирование РЭС» и 1 39 02 02 «Проектирование и пр-во РЭС» всех форм обучения | ru_RU |
| dc.type | Book | ru_RU |
| Appears in Collections: | Кафедра электронной техники и технологии
|
