Использование распределения Вейбулла для прогнозирования параметрической надежности электронной техники

Abstract

В качестве физико-статистической модели деградации функциональных параметров изделий электронной техники предлагается использовать двухпараметрическое распределение Вейбулла. Эффективность этого распределения подтверждена экспериментальными исследованиями на примере мощных биполярных транзисторов. Установлено, что модели деградации, построенные на основе этого распределения, обеспечивают меньшие ошибки прогнозирования параметрической надежности выборок изделий, нежели модели, использующие нормальное распределение.