Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2123
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБелоус, А. И.
dc.contributor.authorПрибыльский, А. В.
dc.date.accessioned2014-12-10T11:06:55Z
dc.date.accessioned2017-07-12T11:53:01Z-
dc.date.available2014-12-10T11:06:55Z
dc.date.available2017-07-12T11:53:01Z-
dc.date.issued2012
dc.identifier.citationБелоус, А. И. Определение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектам / А. И. Белоус, А. В. Прибыльский // Доклады БГУИР. - 2012. - № 7 (69). - С. 60 - 63.ru_RU
dc.identifier.urihttp://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2123
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2123-
dc.description.abstractВажнейшей проблемой обеспечения эксплуатационной надежности современной радиоэлектронной аппаратуры является проблема обнаружения в процессе производства интегральных схем, имеющих скрытые (неявные) дефекты. Такие дефекты не выявляются обычными видами контроля, заложенными в нормативной технической документации.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectдоклады БГУИРru_RU
dc.subjectскрытый дефектru_RU
dc.subjectэксплуатационная надежностьru_RU
dc.subjectинтегральная схемаru_RU
dc.subjectотбраковкаru_RU
dc.subjectвыходной контрольru_RU
dc.titleОпределение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектамru_RU
dc.title.alternativeConvolutional neural model in a task of classification images of the iso- lated digitsru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:№7 (69)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Belous_Opredeleniye.PDF568,74 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.