Skip navigation

05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах : [38] Главная страница коллекции Просмотр статистики

Просмотр
Подпишитесь на эту коллекцию, чтобы ежедневно получать уведомления по электронной почте о новых добавлениях RSS Feed RSS Feed RSS Feed
Ресурсы коллекции (Сортировка по Даты сохранения в по убыванию порядке): 1 по 20 из 38
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
2012Информационно-параметрические методы совершенствования технологии производства субмикронных интегральных микросхем с применением тестовых структурЕмельянов, А. В.
2002Фазо-структурные особенности, электрофизические и сорбционные свойства пленок snox, полученных термическим окислением оловаЗарапин, В. Г.
2005Атомные конфигурации и электронные свойства наноструктур на основе кремний- металлКривошеева, А. В.
2002Формирование субмикронного рельефа тонких пленок обратной литографией с использованием металлических и оксидных масокПрудник, А. М.; Prudnik, A. M.
2002Формирование модифицированного анодного оксида алюминия для светоизлучающих структурПозняк, А. А.; Poznyak, A. A.
2009Формирование функциональных слоев пошаговым и двойным легированием для интегральных микросхем с элементами субмикронных размеровПлебанович, В. И.; Plebanovich, V. I.
2013Методики контроля функциональных и эксплуатационных характеристик микроконтроллеров после воздействия электростатических разрядовПискун, Г. А.; Piskun, G. A
2003МОП - конденсаторы интегральных схем на основе пентаоксида танталаПетлицкая, Т. В.; Petlitskaya, Т. V.
2005Термические методы выявления ранних отказов электронных модулей пластиковых картТаболич, Т. Г.; Tabolich, T. G.
2007Формирование и свойства монокристаллов CuIn3Se5, CuGa3Se5, CuGasSeg и гетероструктур на их основеКушнер, Т. Л.; Kushner, T. L.
2005Формирование субмикронных кмоп структур с повышенной точностью критических размеров методами проекционной фотолитографииКоробко, Ю. О.; Korobko , Y. O.
2000Тонкопленочные микросхемы на основе алюминия и его оксидов для криогенных температурКороткевич, А. В.; Korotkevich, A. V.
2009Формирование функциональных слоев соединений кремния с никелем, кобальтом, железом и палладием ионной имплантацией и ионно-плазменным нанесениемКоробко, А. О.; Karabko, A. A.
2012Многослойные структуры на основе нитрида кремния для мембранных микроэлектромеханнческих систем и полупроводниковых приборовКовальчук, Н. С.; Kovalchuk, N. S.
2003Моделирование многоостровковых структур, функционирующих на эффекте одноэлектронного туннелированияИгнатенко, С. А.; Ignatenko, S. А.
2000Влияние слабых магнитных полей на свойства границы кремний-оксид кремнияНерейко, А. И.; Nareiko, Andrey I.
2007Прогнозирование работоспособности полупроводниковых структур кондуктивным методом при воздействии наносекундных импульсных сигналовЖуравлёв, В. И.; Zhuravliov, V. I.
2001Формирование и свойства пористого кремния и лавинных светоизлучающих структур на его основеЖагиро, П. В.; Jaguiro, P. V.
2002Схемотехнические и конструктивно-технологические методы повышения быстродействия ТТЛШ и биполярно - комплементарных МОП-вентилей, используемых в логических сериях ИМС и интерфейсных БИСЕфименко, С. А.; Efimenko, S. A.
2012Информационно-параметрические методы совершенствования технологии производства субмикронных интегральных микросхем с применением тестовых структурЕмельянов, А. В.; Ymel’yanov, A. V.
Ресурсы коллекции (Сортировка по Даты сохранения в по убыванию порядке): 1 по 20 из 38