Skip navigation

Search


Current filters:

Start a new search
Add filters:

Use filters to refine the search results.


Results 1-5 of 5 (Search time: 0.0 seconds).
  • previous
  • 1
  • next
Item hits:
Issue DateTitleAuthor(s)
2013Планирование эксперимента по выявлению изменений в программном обеспечении микроконтроллеров с flash-памятью при воздействии электростатического разрядаПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Piskun, G. A.; Alexeev, V. F.
2013Основные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядовПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Брылева, О. А.; Piskun, G. A.; Alexeev, V. F.; Bryleva, V. A.
2013Методы технической диагностики микроконтроллеров при воздействии электростатических разрядовПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Брылева, О. А.; Piskun, G. A.; Alexeev, V. F.; Bryleva, V. A.
2016Совершенствование алгоритма испытаний микропроцессорной техники на устойчивость к воздействию разрядов статического электричестваПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Пикулик, А. Н.; Врабий, Э. М.; Piskun, G. A.; Alekseev, V. F.; Pikulik, A. N.; Vrabii, E. M.
2018The Impact of ESD on MicrocontrollersPiskun, G. A.; Alexeev, V. F.; Avakov, S. M.; Matyushkov, V. E.; Titko, D. S.; Алексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Аваков, С. М.; Матюшков, В. Е.; Титко, Д. С.