| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Занкович, А. П. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-09-28T09:29:07Z | - |
| dc.date.available | 2017-09-28T09:29:07Z | - |
| dc.date.issued | 2006 | - |
| dc.identifier.citation | Занкович, А. П. Неразрушающее тестирование оперативных запоминающих устройств на основе локально-симметричных маршевых алгоритмов: автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.13.05 / А. П. Занкович; науч. рук. В. Н. Ярмолик. - Мн.: БГУИР, 2006. - 22 с. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/25818 | - |
| dc.description.abstract | Диссертационная работа посвящена исследованиям в области обеспечения надежности схем ОЗУ. Целью работы является разработка методов, алгоритмов и средств неразрушающего тестирования ОЗУ, характеризующихся высокой достоверностью, малыми аппаратными и программными затратами на реализацию и малым временем обнаружения неисправностей. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | автореферат диссертаций | ru_RU |
| dc.subject | неразрушающие тесты ОЗУ | ru_RU |
| dc.subject | условия обнаружения неисправностей ОЗУ | ru_RU |
| dc.subject | локально-симметричные тесты ОЗУ | ru_RU |
| dc.subject | прерываемые тесты ОЗУ | ru_RU |
| dc.title | Неразрушающее тестирование оперативных запоминающих устройств на основе локально-симметричных маршевых алгоритмов | ru_RU |
| dc.type | Автореферат | ru_RU |
| Appears in Collections: | 05.13.05 Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления
|
