Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/26719
Название: Статистический анализ и оптимизация технологических параметров изготовления интегральных микросхем: учебно-метод. пособие для курсов лекций и лабораторных работ по дисциплинам "Расчет и проектирование элементов ин тегральных схем и полупроводниковых приборов", "Основы САПР в микро электронике", "Моделирование технологических процессов микроэлектроники" для студентов специальности 41 01 02 "Микроэлектроника"
Авторы: Нелаев, В. В.
Стемпицкий, B. Р.
Ключевые слова: учебно-методические пособия
статистический анализ
процессы микроэлектроники
Дата публикации: 2002
Издательство: БГУИР
Библиографическое описание: Нелаев, В. В. Статистический анализ и оптимизация технологических параметров изготовления интегральных микросхем: учебно-метод. пособие для курсов лекций и лабораторных работ по дисциплинам "Расчет и проектирование элементов ин тегральных схем и полупроводниковых приборов", "Основы САПР в микро электронике", "Моделирование технологических процессов микроэлектроники" для студентов специальности 41 01 02 "Микроэлектроника" / В. В. Нелаев, B. Р. Стемпицкий.- Минск: БГУИР, 2002. - 40 с: ил.
Краткий осмотр (реферат): Приведено описание компьютерной учебной программы для многофакторного статистического проектирования технологии изготовления интегральных микросхем (ИМС) с учетом влияния флуктуации технологических параметров на характеристики проектируемой схемы, основанное на использовании метода поверхности откликов в процедуре аппроксимации результатов технологического процесса. Представлена соответствующая инструкция пользования программой.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/26719
ISBN: 985-444-348-5.
Располагается в коллекциях:Кафедра микро и наноэлектроники

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Nelaev_2002.pdf28,78 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.