https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/26719
Название: | Статистический анализ и оптимизация технологических параметров изготовления интегральных микросхем: учебно-метод. пособие для курсов лекций и лабораторных работ по дисциплинам "Расчет и проектирование элементов ин тегральных схем и полупроводниковых приборов", "Основы САПР в микро электронике", "Моделирование технологических процессов микроэлектроники" для студентов специальности 41 01 02 "Микроэлектроника" |
Авторы: | Нелаев, В. В. Стемпицкий, В. Р. |
Ключевые слова: | учебно-методические пособия;статистический анализ;процессы микроэлектроники |
Дата публикации: | 2002 |
Издательство: | БГУИР |
Описание: | Нелаев, В. В. Статистический анализ и оптимизация технологических параметров изготовления интегральных микросхем: учебно-метод. пособие для курсов лекций и лабораторных работ по дисциплинам "Расчет и проектирование элементов ин тегральных схем и полупроводниковых приборов", "Основы САПР в микро электронике", "Моделирование технологических процессов микроэлектроники" для студентов специальности 41 01 02 "Микроэлектроника" / В. В. Нелаев, B. Р. Стемпицкий.- Минск: БГУИР, 2002. - 40 с: ил. |
Аннотация: | Приведено описание компьютерной учебной программы для многофакторного статистического проектирования технологии изготовления интегральных микросхем (ИМС) с учетом влияния флуктуации технологических параметров на характеристики проектируемой схемы, основанное на использовании метода поверхности откликов в процедуре аппроксимации результатов технологического процесса. Представлена соответствующая инструкция пользования программой. |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/26719 |
ISBN: | 985-444-348-5. |
Располагается в коллекциях: | Кафедра микро- и наноэлектроники |
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Nelaev_2002.pdf | 28.78 MB | Adobe PDF | Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.