Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/27705
Title: Использование многократных тестов для псевдоисчерпывающего тестирования запоминающих устройств встраиваемых систем
Authors: Леванцевич, В. А.
Keywords: материалы конференций;псевдоисчерпывающее тестирование;запоминающие устройства;встраиваемые системы
Issue Date: 2017
Publisher: БГУИР
Citation: Леванцевич, В. А. Использование многократных тестов для псевдоисчерпывающего тестирования запоминающих устройств встраиваемых систем / В. А. Леванцевич // Информационные технологии и системы 2017 (ИТС 2017) = Information Technologies and Systems 2017 (ITS 2017) : материалы междунар. науч. конф. (Республика Беларусь, Минск, 25 октября 2017 года) / редкол. : Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск : БГУИР, 2017. – С. 166 - 167.
Abstract: Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств встраиваемых систем, в том числе оперативных запоминающих устройств (ОЗУ). Обосновывается использование многократных тестов ОЗУ с изменяемыми адресными последовательностями для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУ. Приводятся оценки минимальной, максимальной и средней кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек ОЗУ
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/27705
Appears in Collections:ИТС 2017

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Levantsevich_Ispolzovaniye.PDF555.02 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.