Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28950
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЯрмолик, В. Н.-
dc.contributor.authorМрозек, И.-
dc.contributor.authorЛеванцевич, В. А.-
dc.date.accessioned2018-01-03T09:46:20Z-
dc.date.available2018-01-03T09:46:20Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationЯрмолик, В. Н. Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ / В. Н. Ярмолик, И. Мрозек, В. А. Леванцевич // Информатика. – 2017. – №2(54). – С. 58 – 69.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28950-
dc.description.abstractАнализируются методы тестирования современных запоминающих устройств. Показывается обоснованность применения псевдо-исчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдо-исчерпывающего теста для заданного количества ячеек запоминающего устройства.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherОИПИ НАН Беларусиru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectдинамические оперативные запоминающие устройстваru_RU
dc.subjectмаршевый тестru_RU
dc.subjectпсевдоисчерпывающий тестru_RU
dc.titleПсевдоисчерпывающее тестирование ОЗУru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Yarmolik_Psevdoischerpyvayushcheye.pdf164.16 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.