Распределение температуры в токоведущих элементах диода Шоттки при воздействии электромагнитного импульса длительностью до 2-х наносекунд

Abstract

Работа посвящена вопросам изменения температуры в диоде Шоттки в процессе воздействия электростатического разряда. Содержится достаточно полный комплекс данных относительно изменения температуры в период времени от 0,5 до 2 наносекунд в области диода Шоттки. Общей целью работы является получение результатов моделирования изменения температуры во всех областях исследуемой системы, состоящей из областей: анод, эпитаксиальный слой, подложка, катод, с последующим прогнозированием работоспособности. В статье представлена модель диода Шоттки, описаны материалы, используемые при моделировании, графически показано изменение температуры во всех областях исследуемой модели. Работа ориентирована на специалистов, изучающих воздействие электростатических разрядов на диоды Шоттки.