| Title: | JTAG-тестирование и JTAG-тестопригодное проектирование встроенных систем |
| Authors: | Лещенко, В. В. |
| Keywords: | материалы конференций;JTAG-тестирование;контроль качества;программирование;внутрисхемное тестирование (In-Circuit Test, ICT);тестопригодного проектирования (Design-for-Testability, DFT) |
| Issue Date: | 2012 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Лещенко, В. В. JTAG-тестирование и JTAG-тестопригодное проектирование встроенных систем / В. В. Лещенко // Информационные технологии и системы 2012 (ИТС 2012) : материалы международной научной конференции, БГУИР, Минск, Беларусь, 24 октября 2012 г. = Information Technologies and Systems 2012 (ITS 2012) : Proceeding of The International Conference, BSUIR, Minsk, 24th October 2012 / редкол. : Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск : БГУИР, 2012. – C. 194–195. |
| Abstract: | В рамках данной статьи приводиться
краткий обзор технологий, поддерживаемых стандартом IEEE1149.x – JTAG, изложены основные понятия, приводятся примеры использования данной технологии. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/3063 |
| ISBN: | 978-985-488-926-9 |
| Appears in Collections: | ИТС 2012
|
