| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Журавлев, В. И. | - |
| dc.contributor.author | Бруцкий-Стемпковский, В. П. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | - |
| dc.date.accessioned | 2018-04-06T08:49:01Z | - |
| dc.date.available | 2018-04-06T08:49:01Z | - |
| dc.date.issued | 2005 | - |
| dc.identifier.citation | Алексеев, В. Ф. Использование кондуктивной схемы испытаний реакции полупроводниковых приборов на внешний ЭМИ / В. Ф. Алексеев, В. И. Журавлев, В. П. Бруцкий-Стемпковский // Известия Белорусской инженерной академии, Минск. – 2005. – № 1 (19)/1. – С. 28–31. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30886 | - |
| dc.description.abstract | Описывается состав испытательного стенда и назначение его элементов при кондуктивном методе испытаний реакции полупроводниковых приборов на воздействие мощных электромагнитных импульсов (ЭМИ). Приводится методика получения экспериментальных данных для определения времени отказа полупроводникового прибора вследствие тепловой нестационарности. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Белорусский инженерная академия | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковый прибор | ru_RU |
| dc.subject | электромагнитный импульс | ru_RU |
| dc.subject | источники помех | ru_RU |
| dc.title | Использование кондуктивной схемы испытаний реакции полупроводниковых приборов на внешний ЭМИ | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|
