Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30937
Title: Модель развития отказа таксофонных электронных пластиковых карточек
Other Titles: Model of degradation process of failure development in electronic plastic cards
Authors: Таболич, Т. Г.
Лыньков, Л. М.
Tabolich, T. G.
Lynkov, L. M.
Keywords: доклады БГУИР
отказ
развитие отказа
деградационный процесс
электронная пластиковая карта
Issue Date: 2005
Publisher: БГУИР
Citation: Таболич, Т. Г. Модель развития отказа таксофонных электронных пластиковых карточек / Т. Г. Таболич, Л. М. Лыньков // Доклады БГУИР. - 2005. - № 3 (11). - С. 94 - 100.
Abstract: Рассмотрена возможность определения функции развития отказа таксофонных электронных карт с учетом развития деградационного процесса протекающего на этапе эксплуатации. Показано, что временная зависимость развития массовых отказов модулей для электронных пластиковых карт носит нормально-логарифмический характер. Модель является определяющей для выявления деградационных процессов, возникающих в процессе эксплуатации карт с использованием электронных модулей безопасности и определения характерных точек плотности распределения отказов, что облегчает задачу определения надежности чипкарт.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30937
Appears in Collections:№3 (11)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Tabolich _Model.pdf321,4 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.