https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30941
Название: | Симметричное неразрушающее тестирование ОЗУ |
Другие названия: | Symmetric transparent memory testing |
Авторы: | Занкович, А. П. Ярмолик, В. Н. |
Ключевые слова: | доклады БГУИР;неразрушающее тестирование ОЗУ;маршевые тесты;условия скрытия и проявления ошибок;симметричное тестирование |
Дата публикации: | 2005 |
Издательство: | БГУИР |
Описание: | Занкович, А. П. Симметричное неразрушающее тестирование ОЗУ / А. П. Занкович, В. Н. Ярмолик // Доклады БГУИР. - 2005. - № 3 (11). - С. 65 - 70. |
Аннотация: | В статье представлены локально-симметричные методы периодического неразрушающего тестирования схем ОЗУ. Приведена оценка эффективности использования предлагаемых методов в сравнении с существующими методами Николаидиса и глобально- симметричными методами. |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30941 |
Располагается в коллекциях: | №3 (11) |
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Zankovich_Symmetric.pdf | 383.52 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.