https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30980| Title: | Обзор методов неразрушающего тестирования ОЗУ |
| Other Titles: | Transparent memory testing methods overview |
| Authors: | Ярмолик, В. Н. Занкович, А. П. |
| Keywords: | неразрушающее тестирование;маршевые тесты;симметрия данных;условия скрытия и проявления ошибок;маскирование ошибок |
| Issue Date: | 2005 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Ярмолик, В. Н. Обзор методов неразрушающего тестирования ОЗУ / В. Н. Ярмолик, А. П. Занкович // Доклады БГУИР. - 2005. - № 4 (12). - С. 62 - 72. |
| Abstract: | В статье представлен обзор методов периодического неразрушающего тестирования схем памяти. Основное внимание уделено неразрушающим аналогам классических маршевых ал- горитмов. Рассмотрен получивший широкое распространение метод Николаидиса, а также новые методы, основанные на локальной и глобальной симметрии данных. Приведена срав- нительная оценка эффективности использования рассмотренных методов. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30980 |
| Appears in Collections: | №4 (12) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Yarmolik_Transparent.pdf | 256.68 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.