| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Циркунова, Н. Г. | - |
| dc.contributor.author | Кухаренко, Л. В. | - |
| dc.contributor.author | Чижик, С. А. | - |
| dc.contributor.author | Борисенко, В. Е. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-05-23T08:22:02Z | - |
| dc.date.available | 2018-05-23T08:22:02Z | - |
| dc.date.issued | 2008 | - |
| dc.identifier.citation | Артефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканирования / Н. Г. Циркунова и другие // Доклады БГУИР. - 2008. - № 3 (33). - С. 71 - 75. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31596 | - |
| dc.description.abstract | Рассмотрены примеры и причины возникновения погрешностей метрических характеристик
при изучении микро- и нанообъектов с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ). Показан процесс деградации острия зонда как при последовательном сканировании одного и
того же участка поверхности образца, так и в ходе проведения только одного сканирования.
На примере АСМ-изображений клеток крови — лейкоцитов, полученных зондом с двумя
разноуровневыми остриями, показана возможность минимизации влияния формы острия
зонда на объективность воспроизведения нанорельефа поверхности исследуемого образца. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | сканирующая зондовая микроскопия | ru_RU |
| dc.subject | атомно-силовая микроскопия | ru_RU |
| dc.subject | деградация зонда | ru_RU |
| dc.subject | двойное острие | ru_RU |
| dc.title | Артефакты измерений, вносимые зондом атомного силового микроскопа в процессе сканирования | ru_RU |
| dc.title.alternative | Measurement artefacts brought by probe of atomic force microscope during scanning | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | №3 (33)
|
