https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31846| Title: | Анализ методом сканирующей зондовой микроскопии микрорельефа покрытий на стекле, нанесенных ионно-ассистированным осаждением |
| Authors: | Богдевич, П. С. Мойсейчик, Е. С. Пшеничный, Д. С. Холупко, И. С. |
| Keywords: | материалы конференций;сканирующая зондовая микроскопия;микрорельеф покрытий на стекле;ионно-ассистированное осаждение |
| Issue Date: | 2018 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Анализ методом сканирующей зондовой микроскопии микрорельефа покрытий на стекле, нанесенных ионно-ассистированным осаждением / П. С. Богдевич и другие // Компьютерные системы и сети: материалы 54-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 23 – 27 апреля 2018 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2018. – С. 139 – 140. |
| Abstract: | В настоящей работе были проведены исследования поверхностей тонких пленок сплава Al-1.0 ат.% Cr, полученных методом ионно-ассистированного осаждения. В процессе работы был разработан метод исследования данных образцов инструментами АСМ и алгоритм анализа конечных данных. Разработанный алгоритм был успешно применен для анализа изменения топографии поверхности образцов в зависимости от условий их получения. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31846 |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 54-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2018) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Bogdevich_Analiz.pdf | 544.42 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.