Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33073
Название: Concept of new compact model of deep-submicron MOSFET
Авторы: Nelayev, V.
Tran Tuan Trung
Ключевые слова: материалы конференций;deep submicron;submicron MOSFET
Дата публикации: 2013
Издательство: БГУИР
Описание: Nelayev, V. Concept of new compact model of deep-submicron MOSFET / V. Nelayev, Tran Tuan Trung // Nano-Design, Technology, Computer Simulation — NDTCS ’ 2013: proceedings of the 15th International Workshop on New Approaches to High-Tech, Minsk, June 11–15, 2013 / BSUIR. - Minsk, 2013. - P. 70 – 72.
Аннотация: Concept of new compact model for the simulation of deep submicron (DSM), nanometer-scale MOFFET transistor characteristics is presented. The proposed model is based on the use of traditional “compact” submicron MOSFET device model. Parameters of this model are verified by means of fitting procedure to results obtained by use exact physical models taking into account quantum effects accompanying charge carriers transfer in DSM MOSFET.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33073
Располагается в коллекциях:NDTCS 2013

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Nelayev_Concept.pdf98.6 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание Просмотр статистики Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.