https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33139| Title: | Анализ итеративного алгоритма неразрушающего тестирования ОЗУ |
| Other Titles: | Estimation of iterative algorithm for transparent RAM testing |
| Authors: | Иванюк, А. А. Мусин, С. Б. |
| Keywords: | доклады БГУИР;ОЗУ;неразрушающее тестирование;адаптивный сигнатурный анализ |
| Issue Date: | 2010 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Иванюк, А. А. Анализ итеративного алгоритма неразрушающего тестирования ОЗУ / А. А. Иванюк, С. Б. Мусин // Доклады БГУИР. - 2010. - № 1 (47). - С. 90 - 94. |
| Abstract: | На каждой итерации исследуемого алгоритма неразрушающего тестирования оперативных запоминающих устройств (ОЗУ) инвертируются ячейки с адресами, выделенными по маске, которая формируется исходя из номера итерации алгоритма. Для сжатия тестовых реакций используется метод адаптивного сигнатурного анализа. В качестве целевых неисправностей определены многократные константные неисправности ОЗУ. Показано, что обнаруживающая способность повышается с увеличением итераций алгоритма. Определена формула вычисления верхней границы обнаруживающей способности и предельного количества итераций. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33139 |
| Appears in Collections: | №1 (47) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Ivaniuk_Estimation.PDF | 294.53 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.