Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33610
Название: Оценка результатов сегментации изображений атомной силовой микроскопии на основе индекса структурного подобия
Авторы: Рабцевич, В. В.
Цветков, В. Ю.
Байкенов, А. С.
Ключевые слова: материалы конференций
сегментация изображений
наращивание областей
водораздел
индекс структурного подобия
Дата публикации: 2018
Издательство: БГУИР
Библиографическое описание: Рабцевич, В. В., Цветков, В. Ю., Байкенов , А. С. Оценка результатов сегментации изображений атомной силовой микроскопии на основе индекса структурного подобия / В. В. Рабцевич, В. Ю. Цветков, А. С. Байкенов // Цифровая обработка сигналов и теория кодирования : материалы научно-технического семинара, Минск, 26 апреля 2018 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2018. – С. 63-67.
Краткий осмотр (реферат): Проведена оценка результатов сегментации изображений атомной силовой микроскопии со сложной топологией с помощью индекса структурного подобия.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33610
Располагается в коллекциях:Цифровая обработка сигналов и теория кодирования

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Rabtsevich_Otsenka.pdf1,17 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.