| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Ивлиев, И. А. | - |
| dc.contributor.author | Калиновский, Д. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-12-20T11:38:36Z | - |
| dc.date.available | 2018-12-20T11:38:36Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Ивлиев, И. А. Модель прогнозирования эксплуатационной интенсивности отказов интегральных схем / И. А. Ивлиев, Д. В. Калиновский // Новые информационные технологии в научных исследованиях : материалы XXIII Всероссийской научно-технической конференции студентов, молодых ученых и специалистов, Рязань, 2018 г. : т. 1 / Рязанский государственный радиотехнический университет. – Рязань, 2018. – Т. 1. – С. 291 – 293. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33932 | - |
| dc.description.abstract | Рассмотрена возможная модель прогнозирования интенсивности отказов интегральных схем. Представлена математическая модель расчета эксплуатационной интенсивности отказов интегральных схем иностранного производства, которая позволяет осуществлять прогнозирование интенсивности отказов таких групп ИС как: цифровые и аналоговые ИС биполярной технологии; программируемые логические ИС (матрицы) биполярной технологии; цифровые ИС МОП технологии; аналоговые ИС МОП технологии; программируемые логические ИС МОП технологии; микропроцессоры биполярной технологии; микропроцессоры МОП технологии. Выполнено сравнение значений интенсивности отказов в зависимости от величины напряжения разряда статического электричества и от типа воздействия импульса разрядного тока. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Рязанский государственный радиотехнический университет | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | прогнозирование интенсивности отказов | ru_RU |
| dc.subject | интегральная схема | ru_RU |
| dc.subject | модель расчета эксплуатационной интенсивности отказов | ru_RU |
| dc.subject | разряд статического электричества | ru_RU |
| dc.subject | импульс тока | ru_RU |
| dc.title | Модель прогнозирования эксплуатационной интенсивности отказов интегральных схем | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
