Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33933
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorИвлиев, И. А.-
dc.contributor.authorКалиновский, Д. В.-
dc.date.accessioned2018-12-20T11:57:25Z-
dc.date.available2018-12-20T11:57:25Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationИвлиев, И. А. Учет влияния паразитных эффектов и типовых конструктивно­-технологических решений, используемых при проектировании РЭС / И. А. Ивлиев, Д. В. Калиновский // Новые информационные технологии в научных исследованиях : материалы XXIII Всероссийской научно-технической конференции студентов, молодых ученых и специалистов, Рязань, 2018 г. : т. 1 / Рязанский государственный радиотехнический университет. – Рязань, 2018. – Т. 1. – С. 294 – 295.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33933-
dc.description.abstractРассмотрены основные понятия электромагнитной совместимости, необходимые для рассмотрения учета паразитных эффектов и типовых конструктивно-технологических решений при проектировании электронных систем. Показано влияние электромагнитных помех на РЭС. Представлена классификацию помех, которая широко используется инженерами, работающими в области ЭМС.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherРязанский государственный радиотехнический университетru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectэлектромагнитная совместимостьru_RU
dc.subjectпаразитные процессыru_RU
dc.subjectконструктивно-технологические решенияru_RU
dc.subjectРЭСru_RU
dc.subjectпроектированиеru_RU
dc.titleУчет влияния паразитных эффектов и типовых конструктивно-­технологических решений, используемых при проектировании РЭСru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Ivliyev_Uchet.PDF428.52 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.