Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34247
Title: Модели прогнозирования надежности интегральных схем с учетом воздействия электростатического разряда
Other Titles: Models for predicting the reliability of integral schemes taking into account the impact of electrostatic discharge
Authors: Алексеев, В. Ф.
Пискун, Г. А.
Лисовский, А. А.
Константинов, А. А.
Keywords: публикации ученых;интегральная схема;микроконтроллер;электростатический разряд;integrated circuit;microcontroller;electrostatic discharge;failure of integrated circuits
Issue Date: 2018
Publisher: Bratislava
Citation: Модели прогнозирования надежности интегральных схем с учетом воздействия электростатического разряда / В.Ф. Алексеев [и др.] // Slovak international scientific journal. – 2018. – Vol. 1, N 24. – Pp. 47–62.
Abstract: Рассмотрены модели прогнозирования надежности интегральных схем с учетом воздействия электростатического разряда. Показано, что отказы интегральных схем, вызванные воздействием ЭСР, представляют собой события, не связанные внутренними механизмами отказов, так как они являются результатом воздействия приложенного внешнего напряжения (или тока). Рассмотрены модели прогнозирования эксплуатационной интенсивности отказов интегральных схем. Построены графические зависимости сравнения эксплуатационной интенсивности отказов микросхем.
Alternative abstract: The models for predicting the reliability of integrated circuits with regard to the effects of electrostatic discharge are considered. It is shown that failures of integrated circuits caused by the action of ESD are events that are not connected by internal mechanisms of failures, since they are the result of the impact of an applied external voltage (or current). The models for predicting the operational failure rate of integrated circuits are considered. Graphic dependencies are built comparing the operational failure rate of microcircuits.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34247
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Alexseev_Models.pdf1.1 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.