Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34271
Title: Прогнозирование параметрической надёжности биполярных транзисторов для аппаратуры связи длительного функционирования
Authors: Цырельчук, Н. И.
Боровиков, С. М.
Будник, А. В.
Бересневич, А. И.
Keywords: публикации ученых;биполярные транзисторы;параметрическая надёжность;метод имитационных воздействий;индивидуальное прогнозирование
Issue Date: 2018
Publisher: Белорусская государственная академия связи
Citation: Прогнозирование параметрической надёжности биполярных транзисторов для аппаратуры связи длительного функционирования / Н. И. Цырельчук [и др.] // Современные средства связи : материалы XХIII Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 18–19 окт. 2018 года / Белорусская государственная академия связи ; редкол. : А. О. Зеневич [и др.]. – Минск, 2018. – С. 84-85.
Abstract: Рассмотрен метод имитационных воздействий, положенный в основу разработки методики индивидуального прогнозирования параметрической надёжности биполярных транзисторов. В качестве имитационного фактора предложено использовать ток коллектора.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34271
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Tsyrelchuk_Prognozirovaniye.PDF492.56 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.