Skip navigation
Bitte benutzen Sie diese Kennung, um auf die Ressource zu verweisen: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34407
Titel: Исследование восприимчивости цифровых микросхем к воздействию электромагнитных помех
Autoren: Шлома, С. Л.
Stichwörter: материалы конференций
радиоэлектронные системы
электромагнитные помехи
Erscheinungsdatum: 2018
Herausgeber: БГУИР
Zitierform: Шлома, С. Л. Исследование восприимчивости цифровых микросхем к воздействию электромагнитных помех / С. Л. Шлома // Радиотехника и электроника : материалы 54-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 23 - 27 апреля 2018 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. - Минск, 2018. - С. 130 - 131.
Zusammenfassung: Одной из важнейших проблем, которую приходится решать разработчикам современных радиоэлектронных систем (РЭС), является обеспечение надежной работы радиоаппаратуры в условиях воздействия электромагнитных помех (ЭМП). Опыт, накопленный отечественными и зарубежными специалистами, показывает, что помехоустойчивость РЭС в конечном итоге определяется помехоустойчивостью её элементной базы. Этим и обусловлена необходимость проведения исследований влияния электромагнитных помех на работоспособность полупроводниковых приборов и интегральных схем, как наиболее уязвимых элементов, а также разработки мер по снижению их восприимчивости к действию ЭМП.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34407
Enthalten in den Sammlungen:Радиотехника и электроника : материалы 54-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов

Dateien zu dieser Ressource:
Datei Beschreibung GrößeFormat 
Shloma_Issledovaniye.PDF236,28 kBAdobe PDFÖffnen/Anzeigen
Zur Langanzeige Statistik anzeigen


Alle Ressourcen in diesem Repository sind urheberrechtlich geschützt.