Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34407
Title: Исследование восприимчивости цифровых микросхем к воздействию электромагнитных помех
Authors: Шлома, С. Л.
Keywords: материалы конференций
радиоэлектронные системы
электромагнитные помехи
Issue Date: 2018
Publisher: БГУИР
Citation: Шлома, С. Л. Исследование восприимчивости цифровых микросхем к воздействию электромагнитных помех / С. Л. Шлома // Радиотехника и электроника : материалы 54-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 23 - 27 апреля 2018 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. - Минск, 2018. - С. 130 - 131.
Abstract: Одной из важнейших проблем, которую приходится решать разработчикам современных радиоэлектронных систем (РЭС), является обеспечение надежной работы радиоаппаратуры в условиях воздействия электромагнитных помех (ЭМП). Опыт, накопленный отечественными и зарубежными специалистами, показывает, что помехоустойчивость РЭС в конечном итоге определяется помехоустойчивостью её элементной базы. Этим и обусловлена необходимость проведения исследований влияния электромагнитных помех на работоспособность полупроводниковых приборов и интегральных схем, как наиболее уязвимых элементов, а также разработки мер по снижению их восприимчивости к действию ЭМП.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34407
Appears in Collections:Радиотехника и электроника : материалы 54-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Shloma_Issledovaniye.PDF236,28 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.