Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item:
Title: Анализ методов тестирования флэш-памяти
Other Titles: Flash memory testing methods analysis
Authors: Ярмолик, С. В.
Yarmolik, S. V.
Keywords: доклады БГУИР
NOR- и NAND-архитектуры
неисправности памяти
тестирование памяти
маршевые тесты
Issue Date: 2010
Publisher: БГУИР
Citation: Ярмолик, С. В. Анализ методов тестирования флэш-памяти / С. В. Ярмолик // Доклады БГУИР. - 2010. - № 4 (50). - С. 63 - 69.
Abstract: Рассматриваются вопросы построения современной флэш-памяти и анализируются модели неисправностей характерные для данного типа запоминающих устройств. Показывается эффективность применения маршевых тестов запоминающих устройств для обнаружения неисправностей флэш-памяти. Приводится оценка покрывающей способности маршевых тестов.The problems of design and reliability of modern flash-memory are discussed in this paper. The architectures of two types of flash-memory namely the NOR- and NAND-architectures are de- scribed and the specific flash-memory faults and tests for their detection are discussed. The march-like tests, which provide the high cover possibility, are shown to be effective tests for detection specific flash-memory faults.
Appears in Collections:№4 (50)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Yarmolik_Flash.PDF328,77 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.