| Title: | Анализ методов тестирования флэш-памяти |
| Other Titles: | Flash memory testing methods analysis |
| Authors: | Ярмолик, С. В. |
| Keywords: | доклады БГУИР;флэш-память;NOR- и NAND-архитектуры;неисправности памяти;тестирование памяти;маршевые тесты |
| Issue Date: | 2010 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Ярмолик, С. В. Анализ методов тестирования флэш-памяти / С. В. Ярмолик // Доклады БГУИР. - 2010. - № 4 (50). - С. 63 - 69. |
| Abstract: | Рассматриваются вопросы построения современной флэш-памяти и анализируются модели
неисправностей характерные для данного типа запоминающих устройств. Показывается
эффективность применения маршевых тестов запоминающих устройств для обнаружения
неисправностей флэш-памяти. Приводится оценка покрывающей способности маршевых
Тестов. |
| Alternative abstract: | The problems of design and reliability of modern flash-memory are discussed in this paper.
The architectures of two types of flash-memory namely the NOR- and NAND-architectures are de-
scribed and the specific flash-memory faults and tests for their detection are discussed. The march-like
tests, which provide the high cover possibility, are shown to be effective tests for detection specific
flash-memory faults. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35000 |
| Appears in Collections: | №4 (50)
|
