https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35664| Title: | Моделирование воздействия электромагнитных помех на интегральные микросхемы |
| Authors: | Титович, Н. А. Теслюк, В. Н. Тарасенко, В. А. |
| Keywords: | материалы конференций;электромагнитные помехи;интегральные микросхемы |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Титович, Н. А. Моделирование воздействия электромагнитных помех на интегральные микросхемы / Н. А. Титович, В. Н. Теслюк, В. А. Тарасенко // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVII Белорусско-российской научно – технической конференции, Минск, 11 июня 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол. : Т. В. Борботько [и др.]. – Минск, 2019. – С. 70. |
| Abstract: | При исследовании влияния электромагнитных помех (ЭМП) на интегральные микросхемы (ИМС), блоки и устройства радиоаппаратуры целесообразно проводить испытания с использованием TEM-камеры. При этом перед экспериментом проводится предварительное расчетное моделирование влияния ЭМП на ИМС и устройства. Это позволяет значительно сократить затраты времени и средств. Используя для расчетов библиотеку ранее разработанных простых моделей, можно прибегать к проведению эксперимента только на стадии испытаний законченного изделия. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35664 |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2019 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Titovich_Modelirovaniye.pdf | 113.21 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.