https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35821| Title: | Исследование деградации тока-стока n-МОП-транзисторов под влиянием «горячих» носителей |
| Authors: | Загорский, А. В. |
| Keywords: | авторефераты диссертаций;n- МОП-транзисторы;интегральные микросхемы |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Загорский, А. В. Исследование деградации тока-стока n-МОП-транзисторов под влиянием «горячих» носителей : автореф. дисс. ... магистра техники и технологий : 1- 39 81 01 / А. В. Загорский; науч. рук. Г. Г. Чигирь. - Минск : БГУИР, 2019. – 16 с. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35821 |
| Appears in Collections: | 1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Zagorskii_Issledovanie.pdf | 701.59 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.