https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35821| Название: | Исследование деградации тока-стока n-МОП-транзисторов под влиянием «горячих» носителей |
| Авторы: | Загорский, А. В. |
| Ключевые слова: | авторефераты диссертаций;n- МОП-транзисторы;интегральные микросхемы |
| Дата публикации: | 2019 |
| Издательство: | БГУИР |
| Описание: | Загорский, А. В. Исследование деградации тока-стока n-МОП-транзисторов под влиянием «горячих» носителей : автореф. дисс. ... магистра техники и технологий : 1- 39 81 01 / А. В. Загорский; науч. рук. Г. Г. Чигирь. - Минск : БГУИР, 2019. – 16 с. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35821 |
| Располагается в коллекциях: | 1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем |
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Zagorskii_Issledovanie.pdf | 701.59 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.