https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37004| Title: | Применение ускоренных испытаний для анализа деградации параметров n-МОП-транзисторов под воздействием «горячих» носителей |
| Authors: | Загорский, А. В. |
| Keywords: | материалы конференций;МОП-транзисторы;n-МОП-транзисторы |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Загорский, А. В. Применение ускоренных испытаний для анализа деградации параметров n-МОП-транзисторов под воздействием «горячих» носителей / Загорский А. В. // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2019. – С. 124. |
| Abstract: | Эффекты воздействия на МОП-транзисторы «горячих» носителей и радиации имеют близкую природу. Они сводятся к зарядке окисла, образованию поверхностных состояний и изменению крутизны вольтамперных характеристик. Эти факторы действуют совместно, как это имеет место в аппаратуре, функционирующей в условиях космического пространства. В этой статье рассмотрены условия проведения метода ускоренных испытаний на деградацию параметров и проанализированы закономерности процессов деградации параметров р-МОП-транзисторов. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37004 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Zagorskiy_Primeneniye.pdf | 395.5 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.