Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37094
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЗенин, К. Н.-
dc.contributor.authorМарченко, Е. Л.-
dc.contributor.authorПашкевич, М. Н.-
dc.contributor.authorСидоренко, А. Э.-
dc.contributor.authorТерентьев, В. Е.-
dc.contributor.authorШавейко, А. А.-
dc.contributor.authorШеремет, Д. В.-
dc.date.accessioned2019-11-04T12:06:52Z-
dc.date.available2019-11-04T12:06:52Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.citationАнализ результатов наблюдений за надежностью серверов фирмы INTEL / К. Н. Зенин [и др.] // Информационные системы и технологии : тезисы докладов 48-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 7–11 мая 2012 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Институт информационных технологий ; редкол. : В. Л. Николаенко, Г. В. Сечко. – Минск, 2012. – С. 31.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37094-
dc.description.abstractС целью повышения надежности и уровня защиты информации анализируются результаты наблюдений в течение нескольких лет за надежностью серверов фирмы INTEL: высокопроизводительного сервера Intel Server Board S5520UR и сервера меньшей производительности Dell Power Edge 1950. Рассчитываются комплексные показатели надежности и процент потерь информации за счет простоевru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectсерверыru_RU
dc.subjectINTELru_RU
dc.subjectзащита информацииru_RU
dc.titleАнализ результатов наблюдений за надежностью серверов фирмы INTELru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Информационные системы и технологии : 48-я научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов (2012)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Zenin_Analiz.pdf206.37 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.