| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Гурский, С. В. | - |
| dc.contributor.author | Ли, В. К. | - |
| dc.date.accessioned | 2020-01-30T09:06:35Z | - |
| dc.date.available | 2020-01-30T09:06:35Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Гурский, С. В. Методика анализа микрорельефа и структуры пленок солнечных элементов на основе РЭМ / С. В. Гурский, В. К. Ли // Новые информационные технологии в научных исследованиях (НИТ-2019): материалы XХIV Всероссийской научно-технической конференции студентов, молодых ученых и специалистов, Рязань, 13 - 15 ноября 2019 г: в 2 т. / Министерство образования и науки РФ; Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина. – Рязань, 2019. – Т. 2. – С. 83 – 84. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/38417 | - |
| dc.description.abstract | Использование растрового электронного микроскопа (РЭМ) для анализа
тонкопленочных структур солнечных элементов (СЭ) позволяет получать
ценную информацию о микрорельефе поверхностей различных слоѐв
солнечных батарей, измерять их толщину и размеры элементов топологии.
Эти размеры, как правило, имеют микронный масштаб, поэтому исследовать
их с помощью обычного оптического микроскопа не представляется
возможным. Однако существующая методика анализа структур солнечных
элементов на базе РЭМ не всегда приносят желаемый результат и нуждаются
в доработке. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | растровый электронный микроскоп | ru_RU |
| dc.subject | структуры солнечных элементов | ru_RU |
| dc.title | Методика анализа микрорельефа и структуры пленок солнечных элементов на основе РЭМ | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
